Поиск:
Войти
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
Язык: Русский
Тип: Текст
Год издания: 2018
ISBN: 978-5-7782-1618-1
Полная версия
В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.
- О книге
Отзывы о книге «Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5»
Другие книги автора:
Популярные книги

















