Поиск:
Войти
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Язык: Русский
Тип: Текст
Год издания: 2018
Бесплатный фрагмент: pdf
Полная версия
- О книге
- Отзывы 0
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Отзывы о книге «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»
Другие книги автора:
Популярные книги
