bannerbanner
logo
Войти
добавлено
Скачать книгу Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материаловТекст
Добавить В библиотеку

5

Добавить отзывДобавить цитату
Поделиться

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Язык: Русский
Тип: Текст
Год издания: 2018

Полная версия

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
  • О книге

Отзывы о книге «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»

Другие книги автора:

Популярные книги
bannerbanner